X射线荧光光谱法测定多目标地球化学调查样品中主次痕量组分

• 作者: 张勤 李国会 樊守忠 潘宴山
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 化探样品 X射线荧光光谱仪 背景位置选择 谱线重叠校正 粉末样品压片
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 研究报告与简报
• 页码范围: 19-24
• 页数: 6页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2789字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0254-5357.2004.01.005

摘要

采用低压聚乙烯镶边垫底的粉末样品压片制样,用PW2440 X射线荧光光谱仪对多目标地球化学调查样品中Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P、K2O、CaO、Ti、Mn、Fe2O3、Co、Nb、Zr、Y、Sr、Rb、Pb、Th、Zn、Cu、Ni、V、Cr、Ba、La等组分进行测定.重点讨论了微量元素的背景选择和谱线重叠校正问题.使用经验系数法和康普顿散射线作内标校正基体效应,经标准物质分析检验,结果与标准值吻合,用GBW 07308和GBW 07310水系沉积物国家一级标准物质作精密度试验,统计结果RSD(n=12)除La、Cr、Co和Th<14.00%以外,其余各组分均小于6.00%.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张勤	中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所	83	1441	20.0	35.0
2	李国会	中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所	34	595	14.0	23.0
3	樊守忠	中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所	10	267	7.0	10.0
4	潘宴山	中国地质科学院地球物理地球化学勘查技术研究所	8	234	6.0	8.0