用涡流法镀层测厚仪测量镀镍层厚度

• 作者: 周爱骏
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 工学
• 关键词: 测厚仪 涡流法 X射线荧光法 铁基材 标准片
• 年，卷（期）: 2004,（z2）
• 所属期刊栏目: 无损检测
• 页码范围: 605-608
• 页数: 4页
• 分类号: TG115
• 字数: 2972字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-7571.2004.z2.039

摘要

铁表面镀镍工艺流程中,电镀检测站采用涡流法镀层测厚仪对电镀产品的镍镀层厚度进行测量.在使用随机配置的标准片校准仪器时发现其不适用于电镀产品的测定.本文根据涡流法镀层测厚原理,阐述了如何运用电镀产品自制标准片用于测厚仪的校准,从而大大提高了测量数据的准确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周爱骏		1	1	1.0	1.0