颗粒碰撞失效分析

• 作者: 宫建华 朱卫良 陆坚
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 颗粒碰撞 可动颗粒 X-射线
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 电路设计与测试
• 页码范围: 51-53
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2228字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2004.03.011

摘要

本文讲述了颗粒碰撞失效的分析方法.找出了引起失效原因的可动颗粒.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	朱卫良		19	108	6.0	9.0
2	宫建华		4	12	2.0	3.0
3	陆坚		16	86	5.0	8.0