SoC中低峰值功耗的BIST调度算法

• 作者: 时龙兴 李杰 李锐 杨军
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 内建自测试 低功耗 系统芯片
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 68-72
• 页数: 5页
• 分类号: TN74
• 字数: 3256字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2004.01.015

摘要

本文提出了一种系统芯片(SoC)中用于降低内建自测试(Built-in Self-test, BIST)峰值功耗的调度算法.首先本文提出了基于扫描BIST的精简功耗模型,在此模型的基础上,提出了通过调整扫描周期和扫描起动时间的办法来避免过高的SoC测试峰值功耗.实验结果表明,该算法可以有效地避免BIST并行执行可能带来的过高峰值功耗.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨军	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	210	2336	24.0	38.0
2	李杰	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	48	338	9.0	16.0
3	时龙兴	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	61	457	11.0	18.0
4	李锐	东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心	22	121	6.0	10.0