北京慢正电子强束流性能研究

• 作者: 张天保 曹兴忠 王宝义 章志明 薛德胜 魏存峰 魏龙
• 来源期刊: 核技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 慢正电子 束流强度 传输效率 存贮效率
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 所属期刊栏目: 低能加速器技术、射线技术及应用
• 页码范围: 435-439
• 页数: 5页
• 分类号: O571.21+4|O572.2|O532+.11|O462.1
• 字数: 3289字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0253-3219.2004.06.009

摘要

采用电子束流以及脉冲慢正电子束流对系统进行了调试,对束流系统的性能参数进行了测定和研究.实验结果表明,系统对于模拟电子的传输效率高于98%,电子束斑直径小于5 mm.在目前加速器短脉冲的运行模式下,脉冲慢正电子束流的强度达到了105/s以上,IP成像板束流沉积形貌直径小于15 mm,脉冲慢正电子束流微分能谱半高宽(FWHM)约为10 eV;在高于3×10-7Pa的超高真空中,慢正电子在直流化管道内存贮40 ms后,束流强度减弱到原来的50%.系统各项性能运行参数达到了设计要求.