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数字集成电路的FPGA验证
数字集成电路的FPGA验证
作者:
方建旭
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
验证
软件仿真
形式验证
FPGA验证
摘要:
在一个复杂的asic芯片设计中,动辄数百万门,如果已流片后回来的芯片无法正常工作,必将造成时间、金钱的极大损失,比如开发费用的成倍增加,市场先机的丧失等等;为避免以上情况,在流片之前需要做验证,除了采用软件仿真和形式验证是很不够的,还需做其他一些不同的验证,这些验证方法互相补充,以尽可能提高芯片验证的覆盖率,其中很重要的就是系统级的FPGA验证.由于FPGA验证系统与实际的系统很接近,在这样一个系统上,芯片运行的速度和实际系统可比拟甚至一样,这有助于发现一些出现概率很低的bug,很容易运行一些在软件仿真中不太实际的测试;其次,对于一个FPGA验证系统,可以把它视为一个实际芯片构成的系统,完全可以在此基础上利用各种开发工具开发出相应的测试平台和应用平台,这就使得芯片代码的验证与实际芯片的测试类似,并且用于代码验证的所开发的工具和测试向量完全可以用于流片回来后的产品测试,大大减小了工作量,提高了工作效率;
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文献信息
篇名
数字集成电路的FPGA验证
来源期刊
集成电路应用
学科
工学
关键词
验证
软件仿真
形式验证
FPGA验证
年,卷(期)
2004,(7)
所属期刊栏目
设计新技术
研究方向
页码范围
39-42
页数
4页
分类号
TN4
字数
4016字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1674-2583.2004.07.011
五维指标
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
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参考文献
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引证文献(2)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
验证
软件仿真
形式验证
FPGA验证
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
集成电路应用
主办单位:
上海贝岭股份有限公司
出版周期:
月刊
ISSN:
1674-2583
CN:
31-1325/TN
开本:
16开
出版地:
上海宜山路810号
邮发代号:
创刊时间:
1984
语种:
chi
出版文献量(篇)
4823
总下载数(次)
15
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