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微波单片集成电路
可靠性预计
寿命试验
GaAs微波单片集成电路的主要失效模式及机理
砷化镓
微波单片集成电路
失效模式
退化机理
微波单片集成电路测试技术研究
MMIC
微波参数测试
元器件可靠性
微波测试夹具
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 TB1251N单片集成电路原理与检修
来源期刊 家电维修 学科
关键词
年,卷(期) 2004,(4) 所属期刊栏目 每期一图
研究方向 页码范围 31-34
页数 4页 分类号
字数 语种 中文
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期刊影响力
家电维修
月刊
1002-5022
11-2505/TS
北京市海淀区知春路甲48号盈都大厦C座1单元7A
chi
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6122
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