基于单片机的激光远场光斑直接测量系统

• 作者: 吴军辉 姚梅 易亚星 朱震 邢晖
• 来源期刊: 光电技术应用
• 学科: 工学
• 关键词: 激光光斑 远场 直接测量 单片机
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 光电测试与试验技术
• 页码范围: 28-32
• 页数: 5页
• 分类号: TP368.2|TN247
• 字数: 3171字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1255.2004.05.008

摘要

激光远场光斑测量对描述激光束的远场性能,评价激光器以及系统的实际工作性能具有重要意义.通过比较激光光斑远场直接测量与间接测量的优缺点,提出使用单片机控制的探测器阵列进行远场光斑直接测量.描述了系统结构,分析了关键技术,给出了主要程序的框图.该系统能够测量激光光斑大小、形状、总能量、能量分布、重心、束散角等参数,可适用于多种重复频率的激光器,测量面积大、精度高,实时性好,为激光束绝对空间能量分布的测量提供了有效手段.