VXI通用总线仿真器的设计

• 作者: 毕增军 盛文 邓斌 黎志荣
• 来源期刊: 空军雷达学院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 带微处理器电路 故障测试 通用总线仿真器 VXI总线
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 页码范围: 37-39
• 页数: 3页
• 分类号: TP337
• 字数: 1812字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-8691.2004.03.013

摘要

对带微处理器电路的故障测试一般采用仿真测试的方法,为使故障测试系统能够测试带各种类型微处理器的电路,采用通用总线仿真技术,本文设计了一种基于VXI总线结构的通用总线仿真器,测试实验证明它能满足对带微处理器电路的各项测试要求.因此,可以用来组建带微处理器电路的自动测试系统.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	盛文	空军雷达学院雷达系统工程系	45	434	10.0	19.0
2	邓斌	空军雷达学院雷达系统工程系	37	182	7.0	12.0
3	毕增军	空军雷达学院雷达系统工程系	8	32	4.0	5.0