利用O点阵模型对键合界面位错特性的分析

• 作者: 任晓敏 周震 黄永清
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 键合 位错 O点阵
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 147-150,154
• 页数: 5页
• 分类号: TN305
• 字数: 4594字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5868.2004.02.019

摘要

利用O点阵理论建立了键合界面的位错模型,并利用该模型讨论了键合界面由于晶格失配、晶向扭转和晶面倾斜所形成位错的特性,得到了和实验结果符合良好的计算结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄永清	北京邮电大学光通信中心	196	987	13.0	18.0
2	任晓敏	北京邮电大学光通信中心	189	942	13.0	18.0
3	周震	北京邮电大学光通信中心	13	39	3.0	5.0