镁合金微弧氧化处理电压对陶瓷层的影响

• 作者: 王利捷 郝建民 陈宏
• 来源期刊: 表面技术
• 学科: 工学
• 关键词: 镁合金 微弧氧化 陶瓷层 粗糙度 电压
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 17-18
• 页数: 2页
• 分类号: TG174.4|TG146.2
• 字数: 1489字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3660.2004.03.007

摘要

研究了微弧氧化处理中起始电压U始、终止电压U终对陶瓷层的影响,发现电压是决定微弧氧化陶瓷层生长厚度及表面粗糙度的关键.结果表明:当起始电压U始相等时,终止电压U终(或△U)愈高,陶瓷层厚度愈厚;当终止电压U终相等时,起始电压U始愈高,陶瓷层厚度也愈厚.试样的表面粗糙度随微弧氧化处理终止电压U终的升高而增加,与U始变化的关系不明显.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王利捷	长安大学工程机械学院	27	204	8.0	13.0
2	陈宏	长安大学工程机械学院	54	743	14.0	26.0
3	郝建民	长安大学工程机械学院	80	930	17.0	28.0