光纤位移传感器系统测量粗糙度的研究

• 作者: 余璆 张莉萍
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 光纤 无损检测 信号处理
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 试验研究
• 页码范围: 616-618
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 2188字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2004.12.006

摘要

介绍了光纤位移传感器系统测量粗糙度的结构和原理,采用LabVIEW软件对测量数据进行采集、分析和处理,用最小二乘法拟合成曲线实现微位移和粗糙度的检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张莉萍	上海工程技术大学电子电气工程学院	34	75	6.0	7.0
2	余璆	上海工程技术大学电子电气工程学院	11	23	3.0	4.0