基于超深亚微米IC设计的信号完整性研究

• 作者: 杨依忠 林大俊 梁齐 王明虎
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 信号完整性 串扰 IR压降 超深亚微米
• 年，卷（期）: 2004,（12）
• 所属期刊栏目: 数据库与信息系统
• 页码范围: 22-24
• 页数: 3页
• 分类号: TN701
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2004.12.008

摘要

随着工艺尺寸的缩小,IC设计的两大趋势是设计更复杂和对产品的设计周期要求更苛刻.在超深亚微米IC设计中,设计的复杂性会导致SI(信号完整性)问题更加突出,从而会影响整个产品的设计周期.本文在此基础上提出了SI概念以及影响他的因素,并针对其两个主要影响因素crosstalk(串扰)和IR drop(IR压降)进行了分析讨论,并提出了解决的方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨依忠		25	93	6.0	7.0
2	梁齐		47	197	7.0	10.0
3	王明虎		3	34	2.0	3.0
4	林大俊		1	8	1.0	1.0