光电测试系统的性能分析

• 作者: 徐可欣 许卫春 贺忠海
• 来源期刊: 传感技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 光电转换 测试系统 性能分析
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 页码范围: 679-682
• 页数: 4页
• 分类号: TN206
• 字数: 3380字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-1699.2004.04.038

摘要

文章从理论上分析、计算由近红外光电传感器、前置放大电路和采集卡组成的光电测试系统的精度指标.结果表明,系统的绝对误差为6.68 mV;温度和噪声等引起的相对误差为3.26 mV;此外,采集卡的A/D转换宽度也影响着整个系统的精度.文章分析的方法为类似测试系统的性能分析提供了一般方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐可欣	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	194	2590	26.0	39.0
2	许卫春	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	2	30	2.0	2.0
3	贺忠海	天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室	19	570	10.0	19.0