一种新的高分辨率ADC有效位数测试方法

• 作者: 王伟 邱兆坤 陈曾平 马云
• 来源期刊: 国防科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 高分辨率 A/D转换器 有效位数
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 电子工程·计算机工程
• 页码范围: 1-5
• 页数: 5页
• 分类号: TN957.52
• 字数: 4009字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-2486.2004.04.001

摘要

谱分析法和正弦拟合法是ADC动态特性测试的两种常用方法.但在测试信号源信噪比较低的情况下,两种方法的测试结果都存在较大的偏差.提出了一种新的ADC动态性能测试方法,该方法能较好消除信号源对测量结果的影响,使得在普通信号源下可以测试高分辨率的ADC.仿真分析证明了这一测试方法的正确性.最后给出了采用该方法对一ADC系统的实测结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王伟	国防科技大学电子科学与工程学院	46	422	11.0	19.0
2	陈曾平	国防科技大学电子科学与工程学院	49	466	11.0	20.0
3	邱兆坤	国防科技大学电子科学与工程学院	10	151	5.0	10.0
4	马云	国防科技大学电子科学与工程学院	2	63	2.0	2.0