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摘要:
聚合物膜厚的控制对于优化聚合物发光器件的光电性能是至关重要的.应用最小二乘法,通过对中心复合设计实验数据的拟合,建立了旋涂法制备聚合物薄膜的膜厚回归模型.测试结果表明:利用该模型所得到的预测膜厚与旋涂的实测膜厚基本相符.膜厚模型的建立,对于旋涂工艺中旋涂条件的选择、薄膜厚度的控制以及器件性能的优化具有一定的实用价值.
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文献信息
篇名 聚合物发光器件的旋涂膜厚模型研究
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 聚合物发光器件 旋涂 最小二乘法 回归模型
年,卷(期) 2004,(3) 所属期刊栏目 材料、结构及工艺
研究方向 页码范围 191-193,208
页数 4页 分类号 TN383.1
字数 2141字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-5868.2004.03.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 是度芳 华中科技大学物理系 77 621 13.0 21.0
2 尹盛 华中科技大学电子科学与技术系 38 448 12.0 19.0
3 张五星 华中科技大学电子科学与技术系 21 157 8.0 12.0
4 刘陈 华中科技大学电子科学与技术系 27 371 10.0 18.0
5 钟志有 华中科技大学物理系 13 246 8.0 13.0
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聚合物发光器件
旋涂
最小二乘法
回归模型
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
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期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
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22
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22967
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