嵌入式存储器内建自测试的原理及实现

• 作者: 严晓浪 何乐年 沈海斌 陆思安
• 来源期刊: 固体电子学研究与进展
• 学科: 工学
• 关键词: 嵌入式存储器 存储器内建自测试 March算法
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 硅微电子
• 页码范围: 205-208
• 页数: 4页
• 分类号: TN407
• 字数: 3208字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3819.2004.02.012

摘要

随着集成电路设计规模的不断增大.在芯片中特别是在系统芯片SOC(system on a chip)中嵌入大量存储器的设计方法正变得越来越重要.文中详细分析了嵌入式存储器内建自测试的实现原理,并给出了存储器内建自测试的一种典型实现.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈海斌	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	139	832	13.0	21.0
2	严晓浪	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	246	1634	19.0	29.0
3	何乐年	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	88	869	16.0	26.0
4	陆思安	浙江大学超大规模集成电路设计研究所	7	92	4.0	7.0