扫描电子显微镜和原子力显微镜--表面观察的互补技术

• 作者: 孙珊 隋娟玲
• 来源期刊: 矿冶
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描电子显微镜 原子力显微镜 表面观察
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 环境保护,工艺矿物学
• 页码范围: 95-97,79
• 页数: 4页
• 分类号: TG115.21+5.3|TG115.21+5.7
• 字数: 3069字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-7854.2004.03.025

摘要

对于高分辨率表面观察,人们通常利用扫描电子显微镜(SEM)和原子力显微镜(AFM),特别是当分辨率在纳米和原子范围时,SEM和AFM是我们今天可以获得的最有效的两种显微技术.然而,任何一种仪器都不是万能的.本文就材料的表面结构、成分和环境对两种技术进行比较,并描述它们各自独立的特点和互补性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	隋娟玲		2	21	2.0	2.0
2	孙珊		1	16	1.0	1.0