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电子产品可靠性与环境试验期刊
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梳状谐波发生器的失效原因分析
梳状谐波发生器的失效原因分析
作者:
李萍
来萍
郑延圭
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
谐波发生器
失效分析
键合
粘接
摘要:
介绍了对一进口梳状:谐波发生器功能失效样品进行分析的案例.分析结果表明,失效原因是导电胶粘接导致的键合失效,这也是目前国内微波模块中最常见的失效原因之一.通过对失效部位的修补,恢复了失效样品的性能,从而也验证了失效定位和原因分析的准确性.
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文献信息
篇名
梳状谐波发生器的失效原因分析
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
谐波发生器
失效分析
键合
粘接
年,卷(期)
2004,(1)
所属期刊栏目
可靠性物理与失效分析技术
研究方向
页码范围
6-9
页数
4页
分类号
TN12|TN77
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2004.01.002
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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1
来萍
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4.0
7.0
5
李萍
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2.0
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9
郑延圭
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版权信息
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同被引文献
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2004(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
2009(1)
引证文献(1)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
谐波发生器
失效分析
键合
粘接
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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