通过测量有源元件的硅片温度来监视电子系统中的散热情况

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篇名	通过测量有源元件的硅片温度来监视电子系统中的散热情况
来源期刊	今日电子	学科
关键词
年，卷（期）	2004,（7）	所属期刊栏目	技术与市场
研究方向		页码范围	50-53
页数	4页	分类号
字数	4220字	语种	中文
DOI