多种在系统可编程器件数字测试系统

• 作者: 吴文全 王道德 陈久元
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: EDA 可编程逻辑器件 在系统
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 测式系统
• 页码范围: 55-56
• 页数: 2页
• 分类号: TN914
• 字数: 1773字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-7300.2004.02.033

摘要

文中提出了以多种在系统可编程逻辑器件为核心的应用测试平台,阐述其设计思路和设计要点,同时给出系统的实用示例电路.该平台的实现,克服可编程器件开发环境的单一性,为应用在系统可编程技术提供操作平台,为数字系统设计中新增设的PLD技术教学内容提供实验环境.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴文全		61	318	10.0	15.0
2	王道德		5	50	3.0	5.0
3	陈久元		1	2	1.0	1.0