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摘要:
采用MOSD+Dipping方法在P型Si(111)衬底上制备了0.87Na0.5Bi0.5TiO3-0.13PbTiO3薄膜.用X射线衍射技术研究了薄膜的结构和结晶性.用原子力显微镜分析了薄膜的表面形貌.同时还研究了薄膜的存储性能.
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文献信息
篇名 0.87Na0.5Bi0.5TiO3-0.13PbTiO3薄膜的MOSD+Dipping制备
来源期刊 人工晶体学报 学科 工学
关键词 MOSD+Dipping法 C-V曲线 铁电薄膜
年,卷(期) 2004,(5) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 817-819
页数 3页 分类号 TB43
字数 1433字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1000-985X.2004.05.028
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王卓 山东大学晶体材料国家重点实验室 18 63 5.0 7.0
2 杨长红 山东大学晶体材料国家重点实验室 13 61 5.0 7.0
3 王民 山东大学晶体材料国家重点实验室 27 290 7.0 16.0
4 房昌水 山东大学晶体材料国家重点实验室 53 430 13.0 19.0
传播情况
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二级参考文献  (0)
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研究主题发展历程
节点文献
MOSD+Dipping法
C-V曲线
铁电薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
总下载数(次)
16
总被引数(次)
38029
论文1v1指导