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采用粉末溅射的薄膜型气敏元件与测试特性
采用粉末溅射的薄膜型气敏元件与测试特性
作者:
滕丽丽
蔡成森
袁庆华
裘南畹
邢建平
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
电子技术
粉末溅射
薄膜
气敏元件
测试特性
摘要:
利用粉末溅射,研究了SnO2/CeO2微型平面薄膜.结果表明:薄膜最佳掺杂范围(5%-20%)、最佳灵敏度膜厚(150 nm)、响应时间与恢复时间随膜厚变化遵循次方定律;制备出稳定性好的气敏元件,灵敏度S为20-80,对航空汽油气选择性Sl为8-20,响应时间τs<10 s,恢复时间τc<15 s.并对影响灵敏度测试的条件,例如测试电压、湿度影响、反应温变等进行了分析.
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文献信息
篇名
采用粉末溅射的薄膜型气敏元件与测试特性
来源期刊
电子元件与材料
学科
工学
关键词
电子技术
粉末溅射
薄膜
气敏元件
测试特性
年,卷(期)
2004,(12)
所属期刊栏目
研究与试制
研究方向
页码范围
47-50
页数
4页
分类号
TN305.94
字数
3663字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1001-2028.2004.12.015
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
邢建平
山东大学信息科学与工程学院
42
177
6.0
11.0
2
裘南畹
山东大学物理与微电子学院
23
36
3.0
4.0
3
袁庆华
山东大学物理与微电子学院
11
34
2.0
5.0
4
蔡成森
山东大学信息科学与工程学院
7
20
3.0
4.0
5
滕丽丽
山东大学信息科学与工程学院
1
0
0.0
0.0
传播情况
被引次数趋势
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引文网络
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二级参考文献
(0)
共引文献
(0)
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引证文献
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同被引文献
(0)
二级引证文献
(0)
1992(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
1993(2)
参考文献(2)
二级参考文献(0)
1996(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2001(1)
参考文献(1)
二级参考文献(0)
2004(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
电子技术
粉末溅射
薄膜
气敏元件
测试特性
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
主办单位:
中国电子学会
中国电子元件行业协会
国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
出版周期:
月刊
ISSN:
1001-2028
CN:
51-1241/TN
开本:
大16开
出版地:
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
邮发代号:
62-36
创刊时间:
1982
语种:
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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