多径衰落信道下的扩频码设计与联合检测

• 作者: 徐绍君 李道本
• 来源期刊: 通信学报
• 学科: 工学
• 关键词: 零相关窗 组间零相关窗 联合检测 码分多址
• 年，卷（期）: 2004,（4）
• 所属期刊栏目: 学术论文
• 页码范围: 15-22
• 页数: 8页
• 分类号: TN914.53
• 字数: 4221字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-436X.2004.04.003

摘要

在多径衰落信道CDMA系统中,扩频码设计与联合检测为提高系统容量的两个重要手段.在扩频码设计中,通过构造零相关窗码可以消除MAI和ISI,从而提高系统容量.当扩频码相关特性不理想时,通过联合检测也可以消除干扰,提高系统容量.但二者都有一定局限性,对于零相关窗码来说,它的码字资源十分有限,对于联合检测来说,当用户数很大,它的复杂度不能容忍.该文将扩频码设计与联合检测结合起来,提出了一种具有组间零相关窗特性的新型扩频码.在扩频码设计时考虑联合检测,可以增加码字资源,在联合检测中考虑扩频设计,又可以降低联合检测的复杂度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李道本	北京邮电大学信息工程学院	114	413	9.0	14.0
2	徐绍君	北京邮电大学信息工程学院	4	32	2.0	4.0