温梯法Ce:YAG闪烁晶体的宏观缺陷观察

• 作者: 介明印 何晓明 周圣明 徐军 曾雄辉 赵广军
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 无机闪烁晶体 Ce:YAG 温度梯度法 宏观缺陷
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 213-216
• 页数: 4页
• 分类号: O782
• 字数: 2019字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-985X.2004.02.020

摘要

采用温度梯度法(TGT)成功生长了直径为76mm高光学质量的Ce:YAG高温闪烁晶体,采用偏光显微镜研究了Ce:YAG闪烁晶体中的主要宏观缺陷,观察到了生长条纹、侧心、气泡、包裹物以及应力双折射等宏观缺陷.实验结果表明,晶体中的气泡、包裹物以及应力双折射等宏观缺陷主要集中在晶体边缘部分,因此温梯法可以获得高质量的Ce:YAG闪烁晶体.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐军	中国科学院上海光学机密机械研究所	290	2418	22.0	34.0
2	赵广军	中国科学院上海光学机密机械研究所	55	422	11.0	16.0
3	周圣明	中国科学院上海光学机密机械研究所	48	298	9.0	16.0
4	何晓明	中国科学院上海光学机密机械研究所	19	100	7.0	9.0
5	曾雄辉	中国科学院上海光学机密机械研究所	21	118	7.0	10.0
6	介明印	中国科学院上海光学机密机械研究所	5	18	3.0	4.0