保偏光纤应力元成分分布的电子探针分析及双折射的模拟计算

• 作者: 刘礼华 李祥鹏 李美成 萧天鹏 赵连城
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 保偏光纤 应力元 掺杂浓度 双折射
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 光功能材料及其应用
• 页码范围: 358-361,366
• 页数: 5页
• 分类号: TN304
• 字数: 3217字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-9731.2004.z1.087

摘要

利用电子探针波谱仪(WDS)对保偏光纤的横截面进行了成分分析,得到了径向掺杂元素的分布以及应力区和芯区的实际几何形状.实验分析表明保偏光纤截面应力掺杂区成分分布比较明显,从背散射像可以看出,中心白色区域为光纤的Ge掺杂的芯部,两侧黑色区域为B掺杂的应力区.扫描电镜能谱分析得到光纤截面能谱图,从而得到光纤内的杂质种类,这也是和工艺过程中所掺杂的元素相对应的.同时,在测得的应力元形状的基础上,利用微元算法模拟计算双折射与应力元形状及掺杂元素浓度的关系,为新型应力元结构光纤的设计提供依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵连城	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	107	1153	16.0	29.0
2	李美成	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	29	200	8.0	13.0
3	李祥鹏	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	1	1	1.0	1.0