疲劳过程中垂直晶界Cu双晶形变带中位错组态与裂纹形核

• 作者: 李勇 李守新 李广义
• 来源期刊: 金属学报
• 学科: 工学
• 关键词: Cu双晶 位错组态 裂纹 形变带
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 页码范围: 462-466
• 页数: 5页
• 分类号: TG111.7
• 字数: 3119字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0412-1961.2004.05.004

摘要

采用电子通道衬度技术对垂直晶界Cu双晶在疲劳过程中位错组态的演化与裂纹的形核进行了研究.结果表明,形变带中墙结构的间距从形成之初到疲劳裂纹出现始终保持恒定;穿晶裂纹与沿晶裂纹尖端的位错组态均为胞结构;裂纹优先从形变带产生.