扫描隧道显微镜钨针尖氧化层去除的化学方法

• 作者: 余昶 王晖
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 扫描隧道显微镜 电化学腐蚀 钨针尖 氧化层
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 工艺与应用
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TN16
• 字数: 1666字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2004.02.009

摘要

电化学腐蚀得到的扫描隧道显微镜(STM)钨针尖表面通常覆盖了一层钨的氧化膜,这层氧化膜的存在很大程度上影响了STM扫描图像质量.本实验采用氢氟酸对新制备出的钨针尖进行去氧化层处理,并通过对比两组高序热解石墨(HOPG)STM图像和金样品的扫描隧道谱来论证这种去氧化层手段的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王晖	上海交通大学微纳米科学与技术研究院	43	317	11.0	16.0
2	余昶	上海交通大学微纳米科学与技术研究院	1	4	1.0	1.0