OSA在基于去斜率技术的SAR成像中的应用

• 作者: 禹卫东 谢冬冬
• 来源期刊: 现代雷达
• 学科: 工学
• 关键词: 合成孔径雷达 重叠子孔径 成像处理
• 年，卷（期）: 2004,（9）
• 所属期刊栏目: 总体工程
• 页码范围: 11-14,19
• 页数: 5页
• 分类号: TN958
• 字数: 3136字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-7859.2004.09.004

摘要

在高分辨率SAR成像处理中,去斜率技术得到了广泛的应用,但是对SAR数据进行去斜率处理后会产生系统误差.文中详细介绍了重叠子孔径算法(OSA)的基本原理,并给出了具体的实现方法,该算法在很大程度上降低了SAR去斜率处理后出现的系统误差项的影响.通过计算机仿真,验证了此算法的可行性和有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	禹卫东	中国科学院电子学研究所	122	929	15.0	24.0
2	谢冬冬	中国科学院电子学研究所	6	102	5.0	6.0