光栅投影轮廓术的测量高度及适应性研究

• 作者: 刘华 林俊义 肖棋
• 来源期刊: 机电技术
• 学科: 工学
• 关键词: 光栅投影 直接条纹位移分析法 空间频率
• 年，卷（期）: 2004,（z1）
• 所属期刊栏目: 制造与自动化
• 页码范围: 118-121
• 页数: 4页
• 分类号: TM93
• 字数: 2459字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-4801.2004.z1.028

摘要

针对光栅投影轮廓术的测量精度对待测物体缺乏适应性的特点,提出一种在彩色光栅投影下,用软件实现两次变精度测量的方法,以适应待测物体形面的突然起伏;同时,根据彩色光栅的特点,用软件实现提高系统的高度测量能力.实验证明本方法简单、可行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林俊义	华侨大学模具技术研究中心	40	231	9.0	13.0
2	刘华	华侨大学模具技术研究中心	12	33	4.0	5.0
3	肖棋	华侨大学模具技术研究中心	19	64	6.0	8.0