电子电路故障诊断的新方法

• 作者: 何怡刚 谭阳红
• 来源期刊: 电路与系统学报
• 学科: 工学
• 关键词: 撕裂 大规模电路 集团 屏蔽
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 72-75
• 页数: 4页
• 分类号: TN431
• 字数: 3706字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-0249.2004.05.017

摘要

本文提出了一种诊断大规模电子电路的子网络级故障诊断屏蔽方法,首先将电路撕裂成一定数目的子电路,在一定的激励条件下,依次对各子电路进行屏蔽,得到各子电路的逻辑诊断值或逻辑矩阵,最后用逻辑运算进行故障定位.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何怡刚		426	5127	34.0	51.0
2	谭阳红		98	1126	17.0	30.0