光点测试中的光点修复方法研究

• 作者: 李晓华 杨晓伟 王琦龙 陈福朝 雷威
• 来源期刊: 东南大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: 光点 测量 图像处理
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 194-197
• 页数: 4页
• 分类号: TN141.4
• 字数: 2988字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1001-0505.2004.02.012

摘要

针对在荫罩式彩色CRT器件的光点测试中,金属荫罩截获阴极束电流形成荧光屏上光点图像残缺,器件测试人员因此无法了解真实光点全貌,提出了一种有效的解决方案.该方案基于微分原理,采用脉冲偏转微移动法实现电子束在小区间内的线性偏转,并同步采集屏上的光点信息,利用必要的图像处理技术,将多次采集到的残缺光点信息依次叠加,修复成为完整的原始光点.该方案应用灵活,成本低廉,修复效果较好,测量精度较高,适用于对各种尺寸彩色CRT器件性能及显示图像质量的评价.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李晓华	东南大学电子工程系	61	215	7.0	11.0
2	雷威	东南大学电子工程系	89	538	12.0	18.0
3	王琦龙	东南大学电子工程系	22	143	7.0	10.0
4	杨晓伟	东南大学电子工程系	27	98	6.0	8.0
5	陈福朝	东南大学电子工程系	18	56	4.0	6.0