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摘要:
简要介绍了光学滤光片的制造与使用状况,讨论了获得高质量的光学滤光片的条件,简单分析常用方法中光电极值法的固有缺陷,提出一种基于宽光谱扫描法的膜厚控制系统,重点介绍其监控原理、硬件系统及其控制流程,并对其性能进行分析和讨论.
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文献信息
篇名 基于宽光谱扫描法的光学膜厚监控系统的研究
来源期刊 真空电子技术 学科 物理学
关键词 滤光片 光电极值法 宽光谱扫描法
年,卷(期) 2004,(6) 所属期刊栏目 工艺与应用
研究方向 页码范围 29-31
页数 3页 分类号 O484
字数 2100字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1002-8935.2004.06.008
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 黄光周 华南理工大学电信学院物理电子与光电子系 26 189 9.0 13.0
2 于继荣 华南理工大学电信学院物理电子与光电子系 16 84 5.0 8.0
3 王海峰 华南理工大学电信学院物理电子与光电子系 2 8 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
滤光片
光电极值法
宽光谱扫描法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
真空电子技术
双月刊
1002-8935
11-2485/TN
大16开
北京749信箱7分箱
1959
chi
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