现场 X 射线荧光技术在大比例尺地质填图中的应用研究

• 作者: 刘峰 周四春 李爽 段新国 汪云亮 谭蕾
• 来源期刊: 成都理工大学学报(自然科学版)
• 学科: 地球科学
• 关键词: 携带式X射线荧光仪 现场X射线荧光测量 地质界线 地质填图
• 年，卷（期）: 2004,（3）
• 所属期刊栏目: 地球探测与信息技术
• 页码范围: 311-315
• 页数: 5页
• 分类号: P631.6
• 字数: 3667字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-9727.2004.03.015

摘要

探讨了采用X射线荧光现场测量技术开展大比例尺地质填图的理论依据、测试技术、数据处理方法、地质界线划分方法等问题,在此基础上,建立了一套简便易行的现场X射线荧光测量填图工作方法.在两个浮土覆盖矿区开展的1∶5 000～1∶10 000地质填图的初步应用,取得了良好的效果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段新国	成都理工大学能源学院	27	217	9.0	14.0
2	周四春	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	75	390	11.0	15.0
3	刘峰	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	29	119	6.0	9.0
4	汪云亮	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	22	1249	12.0	22.0
5	李爽	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	9	88	5.0	9.0
6	谭蕾	贵州工业大学化学与生物工程学院	6	43	4.0	6.0