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电子产品可靠性与环境试验期刊
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两个不独立共载并联系统模型的可靠性分析
两个不独立共载并联系统模型的可靠性分析
作者:
张涛
邹伟
郭波
高大化
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
共载系统
并联系统
可靠度失效文章
摘要:
为了提高系统可靠性,可以把多个相同的部件并联起来,共同降额使用,构成共载并联系统,这种办法极为有效而又简单易行.在对这种系统进行可靠性分析时,通常假设各个部件之间是独立的,但实际上,各个部件之间并不是独立的.根据这种情况,建立了两个高可靠性不独立共载并联系统的模型,进行了可靠性分析,并在失效时间服从指数分布的假设下计算出了系统的可靠度.
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可靠性分析
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可靠性
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文献信息
篇名
两个不独立共载并联系统模型的可靠性分析
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
共载系统
并联系统
可靠度失效文章
年,卷(期)
2004,(1)
所属期刊栏目
可靠性与环境适应性理论研究
研究方向
页码范围
31-35
页数
5页
分类号
TB114
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2004.01.008
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
郭波
国防科技大学系统工程研究所
139
1675
21.0
33.0
2
邹伟
国防科技大学系统工程研究所
2
15
2.0
2.0
3
张涛
国防科技大学系统工程研究所
72
863
18.0
26.0
4
高大化
国防科技大学系统工程研究所
3
59
3.0
3.0
传播情况
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版权信息
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2004(0)
参考文献(0)
二级参考文献(0)
引证文献(0)
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2007(2)
引证文献(2)
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引证文献(1)
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2012(2)
引证文献(1)
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引证文献(0)
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研究主题发展历程
节点文献
共载系统
并联系统
可靠度失效文章
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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电子产品可靠性与环境试验2018
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电子产品可靠性与环境试验2004年第3期
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电子产品可靠性与环境试验2004年第6期
电子产品可靠性与环境试验2004年第4期
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电子产品可靠性与环境试验2004年第1期
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