电路综合参数测试仪改进方法研究

• 作者: 祁文哲
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 电路综合参数 测量方法 精度 单片机
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 仪器技术及应用
• 页码范围: 53-55
• 页数: 3页
• 分类号: TM903.1|TM903.114|TM903.115
• 字数: 2455字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8892.2004.01.018

摘要

对电路综合参数的测量方法和测量仪器的测量精度进行了讨论;基于误差的来源和误差传递规律的分析,对不同测量方法的可行性进行了讨论.指出了微机型仪表设计中容易忽视的单片机中断响应时间对测量精度的影响.提出了可行的功率因数及功率的测量方法,对电路综合参数测量仪的改进和测量精度的提高具有实际意义.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	祁文哲	兰州交通大学机电工程学院	30	151	7.0	11.0