NI和泰克强强携手联合举办“设计、验证及测试”巡回研讨会

• 来源期刊: 测控自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 美国国家仪器中国有限公司 国有 合作 有限公司 联合 论坛 研讨会 测试 验证 设计
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 页码范围: 12
• 页数: 1页
• 分类号: TP216

摘要

新闻发布——2004年6月--美国国家仪器中国有限公司(National Instruments)和泰克电子中国有限公司(Tektronix)联合宣布推出一系列巡回技术研讨会——“2004设计、验证及测试论坛(Design，Validation，Test Forum，简称DVTF 2004)”，扩展双方的合作空间．并帮助设计工程师们满足日益增长