正电子湮没技术用于新型硫铝酸盐基无宏观缺陷水泥的研究

• 作者: 袁润章 黄从运 龙世宗
• 来源期刊: 硅酸盐学报
• 学科: 工学
• 关键词: 硫铝酸盐 无宏观缺陷水泥 聚乙烯醇 正电子湮没技术 水银压入法
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 所属期刊栏目: 简报
• 页码范围: 99-101
• 页数: 3页
• 分类号: TQ172
• 字数: 1575字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0454-5648.2004.01.018

摘要

探索了正电子湮没技术(positron annihilation technique, PAT)测定硫铝酸盐基无宏观缺陷(macro-defect-free,MDF)水泥中微细孔的实验方法.结果表明:正电子湮没中等寿命成分(τ2≈330 Ps)的强度I2随水泥中微细孔(＜250 A)等的增加而有规律地增大,因此可用I2的大小来表征硫铝酸盐基MDF水泥的密实程度和结构完整性.同时,还将实验结果与水银压入法(mercury instrusion porosimeter, MIP)测试结果进行了对比.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁润章	武汉理工大学材料学院	170	2200	24.0	36.0
2	龙世宗	武汉理工大学材料学院	35	306	10.0	16.0
3	黄从运	武汉理工大学材料学院	40	308	11.0	16.0