可编程器件的测试技术研究

• 作者: 谢长生 韩红星
• 来源期刊: 计算机与数字工程
• 学科: 工学
• 关键词: 可编程器件 测试 ISP
• 年，卷（期）: 2004,（1）
• 页码范围: 50-52
• 页数: 3页
• 分类号: TP392
• 字数: 2024字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-9722.2004.01.014

摘要

本文主要介绍了如何在测试系统中实现对可编程器件的编程技术,如何利用测试仿真技术实现测试数据共享问题,以及对可编程逻辑器件中E2CMOS单元的测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢长生	华中科技大学计算机学院	348	4405	33.0	51.0
2	韩红星	华中科技大学计算机学院	1	3	1.0	1.0