开放式电路板测试系统的开发模式

• 作者: 孟晨 杨锁昌 郑思龙 魏保华
• 来源期刊: 兵工自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 开放模式 电路板 测试系统 可扩展性
• 年，卷（期）: 2004,（5）
• 所属期刊栏目: 测控技术
• 页码范围: 76-77
• 页数: 2页
• 分类号: TP206.1
• 字数: 1629字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-1576.2004.05.034

摘要

针对大型复杂电子装备电路板测试系统的开发问题,提出了一种开放式开发模式.采用此开发模式,首先构建开放式测试系统,并通过扩充测试需求库和测试流程库、设计和配置接口适配电路、编制测试和故障诊断子程序等开放式开发,扩展系统对新UUT的测试功能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郑思龙	军械工程学院导弹工程系	22	76	5.0	8.0
2	孟晨	军械工程学院导弹工程系	164	1365	19.0	27.0
3	杨锁昌	军械工程学院导弹工程系	110	795	15.0	23.0
4	魏保华	军械工程学院导弹工程系	34	186	7.0	12.0