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摘要:
在使用DRE系列ICP发射光谱仪过程中,根据使用中矩管外观的异常现象进行原因查找,逐步改变操作参数,从而减少矩管的损耗,延长其使用寿命,最终达到规范仪器使用操作的目的.
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文献信息
篇名 ICP发射光谱仪矩管部分的使用
来源期刊 氯碱工业 学科 工学
关键词 离子膜电解 烧碱 测试 ICP发射光谱仪
年,卷(期) 2004,(4) 所属期刊栏目 分析与测试
研究方向 页码范围 35-36
页数 2页 分类号 TQ014
字数 2235字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1008-133X.2004.04.013
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研究主题发展历程
节点文献
离子膜电解
烧碱
测试
ICP发射光谱仪
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
氯碱工业
月刊
1008-133X
21-1170/TQ
大16开
辽宁省葫芦岛市龙港区高新七路146号
8-244
1965
chi
出版文献量(篇)
5007
总下载数(次)
31
总被引数(次)
8583
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