X射线ICT检测中康普顿散射效应的影响与修正

• 作者: 彭光含 杨学恒 辛洪政
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: X射线检验 工业计算机层析技术 康普顿散射效应 散射修正
• 年，卷（期）: 2004,（7）
• 所属期刊栏目: 科研成果与学术交流
• 页码范围: 336-338
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28
• 字数: 1547字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2004.07.003

摘要

在X射线工业计算机层析检测(ICT)中,由于X射线与物质作用发生康普顿散射效应,有用信息连同散射光子一起进入探头形成伪影.运用康普顿散射强度方程,结合X射线与物质相互作用的特性,推出X射线ICT中的散射修正公式,并由圆形截面工件散射模型,求出圆形截面工件的具体计算积分限.从探测器探测到的总光子数中减去康普顿散射光子数,即可有效去除散射光子造成的伪影.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨学恒	重庆大学数理学院	39	294	9.0	15.0
2	彭光含	重庆大学数理学院	17	153	8.0	11.0
3	辛洪政	重庆大学数理学院	7	38	5.0	6.0