整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中的应用研究

• 作者: 丁训良 刘志国 孙天希
• 来源期刊: 北京师范大学学报（自然科学版）
• 学科: 物理学
• 关键词: 整体平行束X光透镜 实验室EXAFS谱仪 粉末衍射仪
• 年，卷（期）: 2004,（6）
• 页码范围: 769-773
• 页数: 5页
• 分类号: O434
• 字数: 2396字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0476-0301.2004.06.011

摘要

结合整体平行束X光透镜在实验室EXAFS谱仪中应用研究,利用整体平行束X光透镜和粉末衍射仪设计了一种实验室EXAFS谱仪.工作电压和电流分别为25 kV和100 mA时,该谱仪在9.92 keV能量点处,计数率为3.12×104 s-1,在钨杂质的特征谱线Lβ1能量点处,能量分辨率为15.4 eV.整体平行束X光透镜在该谱仪中既起到会聚X射线的作用又可实现高能滤波器的功能.对实验现象进行了理论分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	丁训良		5	26	4.0	5.0
2	刘志国		6	36	4.0	6.0
3	孙天希		4	25	4.0	4.0