电阻抗断层成像技术综述

• 作者: 徐桂芝 李颖 杨硕 颜威利
• 来源期刊: 河北工业大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电阻抗断层成像技术 正问题 逆问题 硬件系统
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 页码范围: 35-40
• 页数: 6页
• 分类号: TM153
• 字数: 4297字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2373.2004.02.006

摘要

介绍了生物医学工程的重要研究课题之一的电阻抗断层成像(EIT)技术,它是利用对物体表面的电测量来重建反映物体内部结构及功能变化图像的一种新颖的计算机影像技术.本文对EIT技术的发展、正问题、逆问题及硬件系统作了较为详细的介绍,并给出本课题组在该研究方面所取得的部分结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	颜威利	河北工业大学电气与自动化学院	48	755	17.0	26.0
2	杨硕	河北工业大学电气与自动化学院	27	235	8.0	15.0
3	徐桂芝	河北工业大学电气与自动化学院	61	791	15.0	27.0
4	李颖	河北工业大学电气与自动化学院	22	186	7.0	13.0