应用全反射二阶自相关仪测量超短脉冲脉宽

• 作者: 印定军 帅斌 徐至展 李儒新 王兴涛
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 激光技术 激光测量 自相关 全反射
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 1018-1020
• 页数: 3页
• 分类号: TN247
• 字数: 2328字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0258-7025.2004.08.029

摘要

计算了普遍采用的二阶单发自相关仪光路中的分束片的色散引起的超短脉冲展宽量,指出在脉冲极短时该展宽将导致不准确的测量结果(例如,对于脉冲宽度为3 fs左右,通过100 μm厚度的K9玻璃分束片,脉冲展宽将达到10%).基于计算结果,提出了一种新型的采用全反射结构的单发二阶自相关仪设计,通过分波面的方法改变了自相关仪的分束方式,避免了采用透射分束光学元件引起的色散.采用这种全反射式结构的二阶单发自相关仪,可以使自相关测量方法测得的脉冲宽度更为准确,计算得出理论上其最小时间分辨率可达3.6 fs.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王兴涛	中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学实验室	7	30	2.0	5.0
2	徐至展	中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学实验室	163	1107	19.0	24.0
3	李儒新	中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学实验室	74	319	11.0	15.0
4	印定军	中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学实验室	3	24	1.0	3.0
5	帅斌	中国科学院上海光学精密机械研究所强光光学实验室	4	28	2.0	4.0