SOC的低功耗快速测试

• 作者: 陈新武 陈朝阳
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 系统芯片 测试 IP芯核
• 年，卷（期）: 2004,（11）
• 所属期刊栏目: 专题报道(半导体测试与设备)
• 页码范围: 1-4,11
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 2099字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2004.11.002

摘要

SOC由多个芯核组成,它的测试可以分为系统级和芯核级来解决,也可以从电路结构和测试算法两个方面来进行.测试时间长,测试数据量大,测试功耗高是系统芯片测试的难题.解决这些问题的途径主要有:基于软件和硬件协同测试的方法;对测试向量进行处理的方法;在测试电路中使用翻转较少的触发器的DFT结构;合理的划分片上的可测试资源.还给出了尚需进行的研究工作.