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摘要:
单波长监控很难精确控制宽波段上的光学特性.若采用宽光谱扫描可以在很宽的波长范围内监控薄膜特性,则控制既直观又准确.虽然宽光谱监控的思想很早就提出了,但这项技术的实用性一直不高.开发了一套宽光谱监控系统,使用线阵CCD配合计算机,可以实现光谱快速扫描.通过采用一些特殊的方法,系统可以达到较高的精度.配合改进的光学薄膜监控软件,可以满足基于宽光谱监控的自动控制要求.
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文献信息
篇名 基于宽光谱监控的光学薄膜自动控制技术
来源期刊 光子学报 学科 物理学
关键词 自动控制 宽光谱监控 膜厚监控 在线监控 光学薄膜
年,卷(期) 2004,(9) 所属期刊栏目 薄膜光学
研究方向 页码范围 1136-1139
页数 4页 分类号 O484.4+1
字数 2869字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王涌天 北京理工大学信息工程学院光电工程系 183 2866 31.0 46.0
2 卢维强 北京理工大学信息工程学院光电工程系 16 105 6.0 10.0
3 张诚 北京理工大学信息工程学院光电工程系 16 243 8.0 15.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
自动控制
宽光谱监控
膜厚监控
在线监控
光学薄膜
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
光子学报
月刊
1004-4213
61-1235/O4
大16开
西安市长安区新型工业园信息大道17号47分箱
52-105
1972
chi
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