CCD像素响应不均匀性的校正方法

• 作者: 张之江 张智强 陈迎娟
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 工学
• 关键词: 电荷耦合器件 不均匀性 暗电流 光电响应 校正算法
• 年，卷（期）: 2004,（2）
• 所属期刊栏目: 光电子技术与器件
• 页码范围: 216-220
• 页数: 5页
• 分类号: TN386.5
• 字数: 2183字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1004-924X.2004.02.018

摘要

从理论上分析了CCD暗电流和光电响应不均匀性产生的原因,根据光电响应模型提出了CCD像素光电响应不均匀性的校正方法.给出了像素光电响应不均匀性的校正系数用以计算校正量,针对实际情况中干扰光的影响,提出了采用变波长去除干扰方法,对校正方法进行了修正,最后通过仿真对算法进行了验证.结果表明,能量和噪声的不同对算法的影响不大,校正量是随着光信号能量分布变化的,标定过程不受信号的影响,具有自适应性.该校正方法可以有效地减小CCD像素光电响应不均匀性带来的图像噪声.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张之江	上海大学通信与信息工程学院	74	555	13.0	20.0
2	张智强	上海大学通信与信息工程学院	5	149	4.0	5.0
3	陈迎娟	上海大学通信与信息工程学院	6	152	5.0	6.0