ispPAC、CPLD技术在微型测试系统中的应用

• 作者: 张文栋 李锦明 贾晓虎 郭涛 马游春
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: ispPAC、CPLD 存储测试 微型化 负延时
• 年，卷（期）: 2004,（z3）
• 所属期刊栏目: 自动校准与测试
• 页码范围: 227-230
• 页数: 4页
• 分类号: TP2
• 字数: 1626字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2004.z3.062

摘要

将可编程器件用于硬目标侵彻过载参数测试系统.该系统选用xilinx公司的最新产品coolrunner cpld系列可编程器件和lattice半导体公司推出的可编程模拟器件ispPAC.详细介绍了cpld、isppac的性能,系统的组成和工作原理,测试系统电路框图及系统工作状态图,并研究了其低功耗与微型化的实现.