脉冲PIV测试仪及其在超辐射发光管热特性研究中的应用

• 作者: 印新达 唐明星 李传文 江山 王定理
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 超辐射发光管 热特性 脉冲P-I-V测试仪
• 年，卷（期）: 2004,（8）
• 所属期刊栏目: 光器件
• 页码范围: 49-50
• 页数: 2页
• 分类号: TN929.11
• 字数: 1385字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-5561.2004.08.017

摘要

针对超辐射发光管(SLED)的热特性,进行了仿真分析;通过研制的脉冲PIV测试仪对SLED发光区的温度进行了测试,验证了仿真分析结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江山		15	47	3.0	6.0
2	王定理		7	40	4.0	6.0
3	印新达		11	90	6.0	9.0
4	李传文		4	29	3.0	4.0
5	唐明星		1	0	0.0	0.0